0.4/0.3ミリピッチ対応多ピンSoC/大電流検査用低抵抗プローブ

　ヨコオはこのほど、多機能・多ピンデバイス（ＳｏＣ、ＣＰＵ）検査市場向けに展開する多ピンＳｏＣ/大電流検査用低抵抗プローブの製品ラインアップ拡充として、既存の０.８ミリピッチ用製品に加え、新たに０.４ミリピッチ用および０.３ミリピッチ用プローブの２種類を開発した。同社従来比で、より狭ピッチを図りつつ低抵抗を実現した。今春から市場投入する。

　 デジタル製品、携帯端末などの高機能化で搭載ＩＣが大型化、多ピン・狭ピッチ化するのに伴い、ＩＣ検査機器に用いられる検査用プローブには、大型パッケージのコプラナリティを吸収するロングストロークと、増加する電源電流に対処できる十分な低抵抗が要求される。電源デバイス、車載用ＩＣなどのパワー系デバイスも狭ピッチ化が進み、細径ながら、より抵抗値が低く大電流検査に対応可能な検査用プローブへのニーズが高まっている。

　 新製品はこうしたニーズに対応したもの。内部接点構造の工夫など、狭ピッチ化するほど低抵抗化が難しくなるプローブの構成部品の構造を見直したことで、同社従来品の２分の１以下の狭ピッチで、かつ低抵抗性能を実現した０.４ミリピッチおよび０.３ミリピッチ用製品を開発した。

　 主な仕様は、耐電流値（連続）は０.４ミリピッチ品が２.４Ａ、０.３ミリピッチ品が１.８Ａ、コンタクト抵抗は５０ｍΩ以下、ストロークはＤＵＴ側/０.５５ミリメートル、ボード側/０.３ミリメートル。